zycgr220119022026年10至12月政府采购意向

A02100610电子可靠性试验设备

高压碳化硅参数测试及筛选分析仪用于在晶圆级对芯片施加温度、电压应力，完成老化筛选、常高温动静态参数测试和可靠性验证，在封装前暴露早期失效缺陷，提高封装良率并降低成本；同时评估芯片在常高温及动态条件下的可靠性，辅助失效分析与工艺优化，适用于碳化硅MOSFET、碳化硅二极管等。