中国科学院沈阳自动化研究所2026年10月政府采购意向

A02100405-射线式分析仪器

主要用于光学与结构零部件内部缺陷的检测及三维重建，利用X射线穿透物体时的衰减特性，通过射线源和探测器获取物体在不同角度下的二维投影数据，经过图像校正后，利用重建算法生成反映内部结构的三维体数据，从而实现对零部件内部缺陷的检测及量化分析。